HALT试验

环境可靠性-HALT试验

HALT（High Accelerated Life Testing）----高加速寿命试验 。HALT老化测试广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

HALT测试分类

1、温度应力（HL高低温试验箱）

此项试验分为低温及高温两个阶段应力。首先执行低温阶段应力，一般产品是设定起始温度为20℃，每阶段降温10℃，阶段温度稳定后维持10min，之后在阶段稳定温度下执行至少一次的功能测试，如一切正常则将温度再降10℃，并待温度稳定后维持10min再执行功能，依此类推直至发生功能故障，以判断是否达到操作界限或破坏界限；在完成低温应力试验后，可依相同程序执行高温应力试验，即将综合环境应力试验机自20℃开始，每阶段升温10℃，待温度稳定后维持10min，而后执行功能测试直到发现高温操作界限及高温破坏界限为止。

2、高速温度传导

此项试验将先前在温度阶段应力测试中所得到的低温及高温操控界限作为此处的高低温度界限，并以每分钟60℃的快速温度变化率在此区间内进行6个循环的高低温度变化。在每个循环的最高温度及最低温度都要停留10min，并使温度稳定后再执行功能测试。检查待测物是否发生可回复性故障，寻找其可操作界限。在此试验中不需寻找破坏界限。

3、随机振动

此项试验一般产品是将G值自5g开始，且每阶段增加5g，并在每个阶段维持10min后在振动持续的条件下执行功能测试，以判断其是否达到可操作界限或破坏界限。

4、温度及振动合并应力

此项试验将高速温度传导及随机振动测试合并同时进行，使加速老化的效果更加显著。此处使用先前的快速温变循环条件及温变率，并将随机振动自5g开始配合每个循环递增5g，且使每个循环的最高及最低温度持续10min，待温度稳定后执行功能测试，如此重复进行直至达到可操作界限及破坏界限为止。

HALT测试步骤

●低温步进应力测试 - 找出产品的低温操作界限温度值

●高温步进应力测试 - 找出产品的高温操作界限温度值

●冷热冲击 - 通常取低温和高温的操作限的80%值进行5次循环温度冲击

●振动步进应力测试 - 找出产品振动操作界限G值

●温度与振动综合应力 - 通常取80%温度操作限，50%振动操作限

高加速寿命试验应用领域

●家电领域：冰箱、洗衣机、空调、微波炉等主控板，电视机、显示器等

●通讯领域：手机、小型电脑、路由器、遥控器、基站设备等

●汽车领域：车载多媒体（导航、行车记录仪、车载音箱、功放等），行车控制器、各类传感器等各类汽车零部件

●轨道交通领域：轨交通信系统、轨交制动系统、轨交电控系统等

●光伏太阳能领域：逆变器、电源等

●医疗领域：激光手术设备、医疗监测设备等

●军工领域航天设备：舰载空调、军用通信系统等

高加速寿命试验目的

在HALT试验中可找到被测物在温度及振动应力下的可操作界限与破坏界限；为开发人员改进产品设计方案提供依据，以对产品设计缺陷进行及时的修正；并为HASS的应力类型和应力量级的选择提供依据。 

高加速寿命测试作用

●利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善

●了解产品的设计能力及失效模式

●作为高应力筛选及稽核规格制定的参考

●增加产品的可靠性，减少维修成本

●建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并可缩短设计制造周期

我们的优势